3
2
1
7
8
4
5
6

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker Dimension ICON XR to wszechstronny, niskoszumowy mikroskop pracujący w układzie skanowania sondą. Maksymalny obszar skanowania wynosi 90x90 μm w zakresie poziomym i do 10 μm w zakresie pionowym. Mikroskop umożliwia badanie próbek małych i dużych do średnicy 200 mm i grubości 15 mm, przez co nadaje się do obrazowania zarówno próbek laboratoryjnych, jak i przemysłowych. Pomiary odbywają się w dedykowanej komorze antywibracyjnej zapewniającej dodatkową izolację akustyczną. Wyposażony jest on w system Closed-Loop i umożliwia wykonanie pomiarów wykorzystując najważniejsze techniki AFM obejmujących:

  • Contact Mode,
  • Tapping Mode (w tym Fast Tapping do szybkości 20 Hz),
  • PeakForce Tapping (w tym ilościowe obrazowanie fazowe QNM: moduł Young’a, adhezja, deformacja, energia dyssypacji, nanoindentacja),
  • Lateral Force Microscopy,
  • Lift Mode (w tym wysokorozdzielcze pomiary magnetyczne MFM, elektrostatyczne EFM oraz sondę Kelvina KPFM),
  • Force Spectroscopy,
  • Torsion Resonance Mode,
  • Piezoresponse Microscopy,
  • PF-TUNA (pomiary elektryczne).

Możliwy jest pomiar:

  • próbek stałych (moduł Young’a do 200 GPa), stopów, proszków, powierzchni metalicznych i kompozytów.
  • próbek miękkich i biologicznych (polimerów, komórek, liposomów) zarówno w powietrzu, jak i w cieczach (w tym pomiary zarówno w kropli jak i przepływie przy wykorzystaniu pompy perystaltycznej).
  • w zakresie temperatur od -35 do 250 °C
  • próbek przewodzących (PF-TUNA z opcją Dark Lift, Data Cube, pomiary przewodnictwa w cieczach), magnetycznych (w tym wysokorozdzielczy PF-MFM), z ładunkiem powierzchniowym (w tym PF-KPFM)

Ponadto mikroskop wyposażony jest w drugą głowicę skanującą - Bruker Hysitron TriboScope, przeznaczą do obrazowania próbek twardych i równoczesnych ilościowych pomiarów twardości oraz modułu Young’a (nanoindenter skanujący ostrzem Berkovivch’a lub ostrzem płaskim). Nanoindenter wyposażony jest dodatkowo w dynamiczny tryb pracy – nanoDMA.

AFM

Opiekun urządzenia: dr Michał Szuwarzyński