Kalendarz wydarzeń

Seminarium ACMiN: "Podstawowe techniki wiązki jonów w układzie mikrowiązki protonowej"
Czwartek, 28. Marzec 2019, 14:00 - 16:00

Uprzejmie zapraszamy na Środowiskowe Seminarium Fizyki Ciała Stałego i Seminarium ACMiN, które odbędzie się w czwartek 28 marca 2019 r. o godz. 14.00 w Sali Audytoryjnej ACMiN AGH na II piętrze budynku D-16 (ul. Kawiory 30).

Referat pod tytułem "Podstawowe techniki wiązki jonów w układzie mikrowiązki protonowej" wygłosi dr hab. Janusz Lekki (Instytut Fizyki Jądrowej PAN).

Streszczenie:

Przedmiotem seminarium będzie krótkie omówienie możliwości pomiarowych dostępnych w układzie mikrowiązki protonowej w IFJ PAN, skonstruowanej w oparciu o akcelerator typu Van de Graaffa. Akcelerator dostarcza napięcie o wartości do 2.2 MV przy prądzie wiązki (na końcowych stanowiskach pomiarowych) w zakresie od ok. 1000 jonów/sek. do kilku nA. Ze swoimi systemami badawczymi jest to jedyny układ tego typu w Polsce i jeden z niewielu w Europie środkowo-wschodniej. Urządzenie znajduje zastosowanie w badaniach składu pierwiastkowego (szczególnie pierwiastków śladowych) próbek biomedycznych, materiałowych, geologicznych, środowiskowych i innych (np. obiektów sztuki). Na kilku przykładach z tych dziedzin zostaną omówione podstawowe techniki wiązki jonów, ze szczególnym uwzględnieniem metody PIXE – Proton (lub szerzej: Particle) Induced X-Ray Emission). PIXE jest wielopierwiastkową, nieniszczącą metodą ilościową, polegającą na pomiarze energii i natężenia charakterystycznego promieniowania X atomów pierwiastków, wzbudzanych przez bombardowanie próbki protonami z akceleratora. Metoda ograniczona jest tylko zakresem pracy detektora promieniowania X, w praktyce od Na w górę. Jej wykrywalność zawiera się z reguły w granicach od 0.5 do 5.0 ppm (jest to zależne od wielu czynników jak materiał próbki, oznaczany pierwiastek, inne pierwiastki w próbce, itd.). Precyzja (względna dokładność przy pomiarach porównawczych): typowo 5 – 10 %, często dużo lepiej (zależy od próbki). Wielką zaletą metody jest szybkość pomiaru i prosta preparatyka, najczęściej bez żadnej wstępnej obróbki chemicznej.

Przedmiotem seminarium będzie krótkie omówienie możliwości pomiarowych dostępnych w układzie mikrowiązki protonowej w IFJ PAN, skonstruowanej w oparciu o akcelerator typu Van de Graaffa. Akcelerator dostarcza napięcie o wartości do 2.2 MV przy prądzie wiązki (na końcowych stanowiskach pomiarowych) w zakresie od ok. 1000 jonów/sek. do kilku nA. Ze swoimi systemami badawczymi jest to jedyny układ tego typu w Polsce i jeden z niewielu w Europie środkowo-wschodniej. Urządzenie znajduje zastosowanie w badaniach składu pierwiastkowego (szczególnie pierwiastków śladowych) próbek biomedycznych, materiałowych, geologicznych, środowiskowych i innych (np. obiektów sztuki). Na kilku przykładach z tych dziedzin zostaną omówione podstawowe techniki wiązki jonów, ze szczególnym uwzględnieniem metody PIXE – Proton (lub szerzej: Particle) Induced X-Ray Emission). PIXE jest wielopierwiastkową, nieniszczącą metodą ilościową, polegającą na pomiarze energii i natężenia charakterystycznego promieniowania X atomów pierwiastków, wzbudzanych przez bombardowanie próbki protonami z akceleratora. Metoda ograniczona jest tylko zakresem pracy detektora promieniowania X, w praktyce od Na w górę. Jej wykrywalność zawiera się z reguły w granicach od 0.5 do 5.0 ppm (jest to zależne od wielu czynników jak materiał próbki, oznaczany pierwiastek, inne pierwiastki w próbce, itd.). Precyzja (względna dokładność przy pomiarach porównawczych): typowo 5 – 10 %, często dużo lepiej (zależy od próbki). Wielką zaletą metody jest szybkość pomiaru i prosta preparatyka, najczęściej bez żadnej wstępnej obróbki chemicznej.
Miejsce : Sala Audytoryjna ACMiN AGH (1.02A), na II piętrze pawilonu D-16 (ul. Kawiory 30).